便攜式X射線熒光光譜儀Compass200測(cè)定鎢礦,鉬礦,錫礦

鎢,鉬,錫礦產(chǎn)資源是我國(guó)重要的礦產(chǎn)資源,其礦產(chǎn)中常常伴生銅,鉛,鋅,鉍等重金屬元素,成礦元素鎢,鉬,錫經(jīng)典分析方法多為單元素分析,且步驟繁瑣,流程長(zhǎng),耗費(fèi)了大量的人力,物力,財(cái)力.我司開發(fā)的Compass200便攜式測(cè)礦儀是為適應(yīng)當(dāng)前國(guó)家礦產(chǎn)勘查工作的需要,縮短分析周期,提高效率,建立鎢,鉬,錫礦成礦元素的X射線熒光光譜分析方法.以國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以及混合所得的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部控制樣做工作曲線,建立了粉末壓片-X射線熒光光譜法測(cè)定礦石中的鎢,錫.鎢,錫工作曲線含量范圍分別為50ppm～5%,15ppm～3.5%;鎢,錫的方法精密度(RSD)分別為2.15%和0.51%;儀器的精密度(RSD)分別為0.85%和0.51%.該方法樣品制備簡(jiǎn)單,經(jīng)濟(jì),快速,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)驗(yàn)證以及與標(biāo)準(zhǔn)方法比對(duì)表明,對(duì)于一般的礦石樣品,該法能夠滿足地質(zhì)礦產(chǎn)勘查的要求

X 射線光學(xué)的最新發(fā)展允許開發(fā)一系列商用臺(tái)式微型 XRF 礦石分析儀器，這些儀器可以在樣品上產(chǎn)生 2mm的 X 射線光斑尺寸，從而允許主要和痕量以最少的樣品制備對(duì)一系列樣品類型和尺寸進(jìn)行元素分析。此類儀器使用基于基本參數(shù)的“無(wú)標(biāo)準(zhǔn)"量化算法提供定量分析。使用單個(gè)臺(tái)式微型 XRF 儀器評(píng)估地質(zhì)材料定量分析的準(zhǔn)確性和精度，以及便攜式XRF測(cè)礦儀在更廣泛的地質(zhì)問題中的應(yīng)用。內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的定量分析表明，此類儀器可以提供高度可重現(xiàn)的數(shù)據(jù)，但對(duì)于許多硅酸鹽材料，無(wú)標(biāo)準(zhǔn)定量并不準(zhǔn)確。但是，可以通過對(duì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的類型校準(zhǔn)來提高準(zhǔn)確度具有相似的基質(zhì)和成分。使用XRF礦石分析儀進(jìn)行定性分析可以簡(jiǎn)化和簡(jiǎn)化后續(xù)地球化學(xué)和同位素分析的樣品表征和處理。

特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)

•便攜，堅(jiān)固，緊湊的設(shè)計(jì)，輕松實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)高精度樣品無(wú)損檢測(cè)

•友好的軟件界面和一鍵式啟動(dòng)測(cè)試

•常規(guī)分析培訓(xùn)只需幾分鐘

•大型8英寸觸摸屏上顯示的直觀界面

•可選配大容量電池，無(wú)需外部供電情況下可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間工作

應(yīng)用領(lǐng)域

·土壤重金屬普查，篩查

·可對(duì)含鉛涂料進(jìn)行檢測(cè)

·可對(duì)過濾介質(zhì)進(jìn)行金屬檢測(cè)

·可用于檢測(cè)經(jīng)過鉻化銅處理的木材、其他建筑材料、以及它們的碎層

·環(huán)境重金屬污染分析

·礦產(chǎn)礦石分析：銅礦，鉻礦，鉬礦，鎢礦，鉭礦，鐵礦，鉛鋅礦，稀土，錳礦，鎳礦，貴金屬礦產(chǎn)等

·食品，化妝品和藥品重金屬測(cè)試

·催化劑中貴金屬元素鉑鈀銠分析

技術(shù)參數(shù)