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2024-11-21

古董分析儀利用光譜分析、X射線熒光（XRF）等技術，對古董及藝術品進行非破壞性檢測，分析其成分、年代及制作工藝。它能夠精確測量古董中各種元素的含量，如鈉、鎂、鋁、鈣、鐵等，通過比對數(shù)據(jù)庫中的標準數(shù)據(jù)，判斷古董的真?zhèn)?、年代及產(chǎn)地。古董分析儀在長時間使用過程中，可能會出現(xiàn)故障。以下是...

2022
9-30

SDD能量色散X熒光測金儀的工作介紹 EDX-8000MaxSDD貴金屬珠寶檢測儀黃金檢測專家為了保證首飾的硬度、光澤度及美觀程度等，黃金首飾的組成原料不是單一的純金屬，而是以黃金為主要材料的合金體。目前，中國首飾行業(yè)強制性標準GB11887—2008規(guī)定，黃金首飾按黃金純度大致可分為9K、14K、18K、22K、足金和千足金等幾種。對于各類首飾中金和其他組成元素的分析測試，目前國內均有相應的標準分析方法，主要包括國家標準、行業(yè)標準、地方標準等。這些分析方法為黃金首飾的公平交易以及相關部門的質量監(jiān)督，提供了必要的...
2022
9-30

XRF熒光光譜通用合金測試分析儀用于合金成分測試和牌號鑒定 XRF熒光光譜通用合金測試分析儀EDX9000A用于合金成分測試和牌號鑒定XRF能量色散熒光光譜法是一般合金分析和金屬鑒定研究中經(jīng)常使用的方法。XRF表達式是英語X射線熒光技術表達的縮寫，表示X射線熒光技術。XRF通用合金測試分析光譜儀EDX9000A廣泛應用于各種合金成分分析和牌號鑒定。測試準確快速無損，是合金分析的理想工具之一。一臺無需氬氣和氦氣消耗的高性能合金元素分析光譜儀XRFAnalyzer媲美直讀光譜儀的檢測性能，*的無損分析（無需破壞樣品）真空測試環(huán)境提供*佳輕...
2022
9-30

XRF熒光光譜測金儀的基本原理 XRF熒光光譜測金儀EDX6000的基本原理X射線熒光(XRF)測金儀EDX6000是一種診斷性無損檢測技術，可用于檢測和測量物質中元素的濃度。熒光是現(xiàn)象吸收入射輻射并將其重新輻射為低能量輻射。一個熒光的例子是“T”襯衫，當暴露在隱形環(huán)境中時會明顯發(fā)光的紫外線。某些礦物質會發(fā)出熒光；什么時候暴露在紫外線下，它們會發(fā)出熒光——發(fā)出可見光。在原子尺度上，可見光熒光是由入射的紫外線引起的從原子的外層電子殼中射出低能電子?？杖?，留下由射出的電子填充，由從最外層“落入”的電子填充。這個...
2022
9-30

什么是XRF熒光光譜測金儀？什么是X熒光光譜測金儀？XRF測金儀隨著貴金屬價格的每日變化，測試中的微小誤差會嚴重影響您的利潤。鍍金和仿制物品只是珠寶商，黃金交易商和當鋪所有者每天面臨的一些挑戰(zhàn)。企業(yè)需要準確的結果來消除確定項目價值的可變性和主觀性，以確保交易可獲利。X熒光光譜儀測金儀原理X射線熒光光譜法（XRF）測金儀被普遍認為是一種非常準確的方法，它通過用高能光子（例如X射線或γ射線）照射樣品并觀察由此產(chǎn)生的X射線熒光來測量材料的原子組成。通常，X射線熒光光譜儀由激發(fā)輻射源（X射線管或放射性同位素），...
2022
9-30

?XRF熒光光譜儀合金分析儀測定白銅合金? ?EDXRF熒光光譜EDX9000A合金分析儀測定白銅合金?直接用白銅合金片樣定性掃描測定Ni,Cu和Zn的X一射線熒光強度值,作強度歸一化可以半定量確定主量元素質量百分數(shù)(%),結果發(fā)現(xiàn)元素之間有明顯的吸收-增強效應.改用溶液濾紙片薄膜制樣測定,強度歸一化的計算值與試樣元素的推薦值十分吻合,說明元素之間的吸收-增強效應基本消除,研究的方法精確度高，重復性好，滿足客戶測試需求。譜處理方式:譜經(jīng)數(shù)字濾波扣除本底和重疊峰,用XML峰擬合法提取峰的凈強度.定量分析:采用基本參數(shù)法(...
2022
9-30

利用玻璃熔融片法和XRF熒光光譜儀測礦儀分析磷礦石利用玻璃熔融片法和XRF熒光光譜儀EDX-9000B分析磷礦石利用玻璃熔融片法和XRF熒光光譜EDX9000B礦石分析儀測試磷礦石中主量微量元素開發(fā)了熔融片XRF法測定磷礦石中P205,SiO2,CaO,MgO,Fe203,Al203,K20,TiO2,MnO等八種成份.方法簡便,快速,準確,能滿足工業(yè)生產(chǎn)分析的要求關鍵應用礦石分析儀EDX9000B光譜儀可以處理從幾毫克到更大的散裝樣品的多種樣品類型。樣品可以測量包括：固體粉餅散粉液體熔珠泥漿顆粒劑薄膜樣品薄膜和涂料X射線熒...
2022
9-30

什么是石油XRF熒光測硫儀？ X熒光硫測定儀是基于X射線熒光光譜技術分析的一種測試光譜儀。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出硫元素的特征X光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉為對應的測試強度。用標準物質樣品建立特征X射線強度與硫含量之間...

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