及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決古董分析儀故障才能確保其準(zhǔn)確性
2024-11-21
古董分析儀利用光譜分析、X射線(xiàn)熒光（XRF）等技術(shù)，對(duì)古董及藝術(shù)品進(jìn)行非破壞性檢測(cè)，分析其成分、年代及制作工藝。它能夠精確測(cè)量古董中各種元素的含量，如鈉、鎂、鋁、鈣、鐵等，通過(guò)比對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，判斷古董的真?zhèn)巍⒛甏爱a(chǎn)地。古董分析儀在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中，可能會(huì)出現(xiàn)故障。以下是...
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XRF熒光光譜儀制樣方法的原理和依據(jù)
XRF熒光光譜儀制樣方法的原理和依據(jù)樣品處理是整個(gè)分析檢測(cè)過(guò)程的重要組成部分。其目的是利用各種化學(xué)方法將測(cè)試元素以離子的形式從固（液）態(tài)樣品中定量轉(zhuǎn)移到測(cè)試溶液中。選擇合理的樣品分解方法可以大大簡(jiǎn)化分析程序，大大提高分析方法的適應(yīng)性和準(zhǔn)確性。設(shè)計(jì)樣品處理的原則是：①保證樣品中所有被測(cè)元素都定量轉(zhuǎn)移到試液中，即樣品必須*分解；②避免在樣品處理過(guò)程中引入干擾元素，同時(shí)有助于去除干擾元素；③分解方法應(yīng)盡可能簡(jiǎn)單、易操作、經(jīng)濟(jì)、快速、安全，盡量減少對(duì)環(huán)境的污染；④便于批量處理樣品。要...
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什么是X熒光光譜石油快速硫分析測(cè)試儀？
什么是X熒光光譜石油測(cè)硫儀？X射線(xiàn)熒光硫分析儀是一種基于X射線(xiàn)熒光光譜分析的測(cè)試光譜儀。X射線(xiàn)熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jiǎn)稱(chēng)：XRF光譜儀）是一種快速、無(wú)損的材料測(cè)量方法。其原理是用X射線(xiàn)激發(fā)源照射待分析的油樣。樣品中硫元素的內(nèi)電子被敲除后，引起核外電子躍遷。當(dāng)被激發(fā)的電子回到基態(tài)時(shí)，硫元素就會(huì)被放出。特征X射線(xiàn)。探測(cè)器接收這些硫元素的特征X射線(xiàn)信號(hào)，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的測(cè)試強(qiáng)度。特征X射線(xiàn)強(qiáng)度與硫含量之間的關(guān)系是用標(biāo)準(zhǔn)物...
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使用X射線(xiàn)能量色散熒光光譜儀的測(cè)試程序和步驟
使用X射線(xiàn)能量色散熒光光譜儀（XRFAnalyzer）的測(cè)試程序和步驟1光譜儀準(zhǔn)備a)按照儀器的工作說(shuō)明書(shū)給儀器通電，加熱設(shè)備，按廠家說(shuō)明書(shū)對(duì)儀器進(jìn)行穩(wěn)定。b)確保測(cè)試穩(wěn)定，并按照制造商的說(shuō)明使檢測(cè)器穩(wěn)定2校準(zhǔn)a)根據(jù)儀器用戶(hù)手冊(cè)的說(shuō)明，按照第7節(jié)的說(shuō)明選擇參考樣品作為校準(zhǔn)樣品。樣品中的元素濃度應(yīng)該不一樣。如果校準(zhǔn)覆蓋的元素多，濃度范圍大，則需要大量的校準(zhǔn)樣品。由于以下原因，校準(zhǔn)樣品的數(shù)量有所減少：—用基本參數(shù)法校準(zhǔn)（元素小于標(biāo)準(zhǔn)）—使用基本參數(shù)方法校準(zhǔn)（使用具有相似元素的標(biāo)...
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在 XRF 熒光光譜儀中使用壓片法與直接測(cè)試粉末樣品相比有哪些優(yōu)勢(shì)？
在XRF熒光光譜儀中使用壓片法與直接測(cè)試粉末樣品相比有哪些優(yōu)勢(shì)？壓片制備步驟X射線(xiàn)熒光光譜(XRF)對(duì)樣品材料的制備高度敏感。壓縮的水泥樣品顯示出更高的信噪比，與松散的粉末形式相比，它可以檢測(cè)到最輕的元素。當(dāng)元素組成被量化時(shí)，在預(yù)期值和松散粉末樣品之間觀察到明顯的差異。當(dāng)使用同一批水泥制備壓縮顆粒時(shí)，這些差異將消失。XRF光譜分析信號(hào)由兩部分組成：特征波長(zhǎng)處的X射線(xiàn)發(fā)射峰對(duì)應(yīng)于分析樣品原子中發(fā)生的電子躍遷由松散束縛的外部電子散射的X射線(xiàn)的連續(xù)背景，發(fā)射峰疊加在其上這些特征X射...
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RoHS2.0 限制重金屬、鉛、鎘、汞和鉻的危害及其監(jiān)測(cè)方法
RoHS2.0限制重金屬、鉛、鎘、汞和鉻的危害及其監(jiān)測(cè)方法EDX-8000Brohs分析儀1.物質(zhì)的理化常數(shù)國(guó)標(biāo)號(hào)：CAS：7439-92-1中文名稱(chēng)：鉛英文名稱(chēng)：Lead;LeadFlake別名：無(wú)分子式：Pb分子量：207.2熔點(diǎn)：327℃密度：相對(duì)密度（水=1）11.34（蒸氣壓：970℃溶解性：不溶于水，溶于硝酸、熱濃硫酸、堿液，不溶于稀鹽酸穩(wěn)定性：穩(wěn)定外觀與性狀：灰白色軟粉末，切割面有光澤，延展性弱，延展性強(qiáng)危險(xiǎn)標(biāo)志：用途：主要用于電纜、電池、鉛冶煉、廢銅冶煉、印刷...
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X射線(xiàn)熒光光譜儀常見(jiàn)問(wèn)題--EDXRF光譜儀系列
英飛思科學(xué)儀器X射線(xiàn)熒光光譜儀常見(jiàn)問(wèn)題--EDXRF光譜儀系列問(wèn)：RoHS限制的六種物質(zhì)是什么？答：六價(jià)鉻、鎘、鉛、汞、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。問(wèn)：RoHS限制的六種物質(zhì)的含量限制是多少？答：六價(jià)鉻為1000PPM，鎘為100PPM，汞為1000PPM，鉛為1000PPM，多溴聯(lián)苯為1000PPM，多溴聯(lián)苯醚為1000PPM。問(wèn)：EDX9000B的檢測(cè)范圍是多少？答：它可以檢測(cè)從鈉到鈾的各種元素。問(wèn)：我們的設(shè)備可以做哪些測(cè)試？A：可做RoHS檢測(cè)、鹵素（Br、Cl）檢測(cè)、玩具八...
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XRF能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀的基質(zhì)基體干涉效應(yīng)分析
XRF能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀的基質(zhì)基體干涉效應(yīng)分析a)激發(fā)輻射的散射過(guò)程會(huì)影響樣品中元素的特征輻射強(qiáng)度。這是因?yàn)樯⑸溥^(guò)程會(huì)影響光譜的背面。看法。此外，還有兩個(gè)主要影響：b)樣品中的激發(fā)輻射被吸收，其他元素（基質(zhì)）發(fā)出由此產(chǎn)生的或熒光輻射。c)樣品中其他元素的二次激發(fā)（增強(qiáng)）?！芰喜牧希核芰蠘悠分械幕|(zhì)會(huì)影響分析物的特征X射線(xiàn)強(qiáng)度，主要來(lái)自：—一次輻射的散射（主要是不連續(xù)的），這對(duì)背景光譜有很大的貢獻(xiàn)—在熒光輻射中的吸收，主要是由PVC中的Cl、Ca、Ti、Zn、Sn等添加...
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