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Simply The Best 微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì)，可分析不規(guī)則樣品厚度 高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實(shí)現(xiàn)快速，無損，高精度測量 高分辨率樣品觀測系統(tǒng)，可移動(dòng)高精度樣品平臺(tái)，準(zhǔn)確快速定位測試點(diǎn)位 全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及單鍍層厚度和材料成分進(jìn)行測量 搭載高精度手調(diào)X-Y平臺(tái)，使微區(qū)測量更便捷

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